Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜，可用于纳米材料高分辨成像、半导体表面缺陷观察、碳材料微观结构分析等场景。该设备适合高校科研实验室、企业研发部门、第三方检测机构、半导体及纳米材料相关用户使用，可帮助用户观察样品表面微观结构、纳米颗粒形貌、孔隙特征、缺陷区域及精细材料结构。

Phenom Pharos G2 采用肖特基热场发射电子枪，电子光学放大倍数可达 2,000,000 X，分辨率优于 1.5 nm，适合对高分辨形貌、精细结构和微纳尺度特征有要求的研发与检测场景。

该产品具备台式化设计、低/中/高三种真空模式、背散射探测器、二次电子探测器，并可根据需求选配能谱探测器。具体配置和价格根据样品类型、成像需求及功能配置确定，可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议，并预约试样。