大尺寸样品观察用飞纳大仓室台式扫描电镜 Phenom XL G3

产品简介

对于部分材料检测和科研测试而言，样品并不适合裁切成小尺寸后再进行观察。尤其是块状材料、较大尺寸部件以及需要保留原始形态的样品，样品仓空间往往会直接影响扫描电镜的使用范围。

Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，**支持 100 x 100 mm 样品分析，可用于较大尺寸样品的微观形貌观察。同时，设备可同时容纳 36 个样品，对于需要连续处理多个样品的检测任务，也能够提供较大的样品承载空间。

在日常成像方面，Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm。设备采用 CeB6 灯丝，可用于材料表面、颗粒、局部结构以及缺陷区域等微观特征的观察。

除样品空间外，Phenom XL G3 还提供低、中、高三种真空模式。设备标配背散射探测器，并可根据实际应用需求选配二次电子探测器和能谱探测器，从而满足不同类型材料的观察和分析任务。

大仓室设计带来的使用空间

较大样品无需频繁缩小尺寸

**样品尺寸可达到 100 x 100 mm，对于块状材料、较大尺寸试件以及其他不便进行小尺寸取样的样品，可提供更大的装样空间。

多个样品可以集中安排

设备*多可同时容纳 36 个样品。对于批量样品测试或不同样品需要连续观察的情况，可以在一次实验中安排多个样品，提高实验室测试的便利性。

大样品与高倍观察兼顾

大仓室并不意味着只能进行低倍观察。Phenom XL G3 电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可根据实际测试目标从整体形貌观察进一步查看局部微观结构。

成像与分析能力

快速获取样品图像

平均成像时间约 40 秒，可满足日常材料观察和多样品测试中的成像需求。

CeB6 电子枪

设备采用 CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时，为实验室开展长期材料观察和检测提供支持。

多种真空条件

支持低、中、高三种真空模式，可针对不同样品特性选择相应的工作模式。

可扩展不同探测器

标配背散射探测器，可选配二次电子探测器和能谱探测器。根据配置不同，可开展材料形貌观察以及颗粒、异物或局部区域的元素分析。

适用场景

Phenom XL G3 可用于：

• 大尺寸材料样品观察

• 块状及较大尺寸试件分析

• 多样品连续检测

• 材料表面形貌观察

• 颗粒及局部结构观察

• 缺陷区域微观分析

• 工业质量检测

• 第三方检测与科研测试

技术参数

常见问题

1. Phenom XL G3 **可以放多大的样品？

设备**支持 100 x 100 mm 样品分析。实际可测试样品还需要结合样品形状、厚度以及具体装样方式进行确认。

2. 一次可以放多个样品吗？

可以。样品承载能力可同时容纳 36 个样品，适合多样品检测及连续测试需求。

3. 大尺寸样品也可以进行高倍观察吗？

可以。设备电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可针对样品局部区域进行进一步放大观察。

4. 可以分析样品的元素组成吗？

设备可根据需求选配能谱探测器，用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。具体分析能力需结合样品类型及配置确定。

5. 产品价格如何确定？

价格根据设备具体配置、探测器选项及实际应用需求确定。可通过平台询价或留言提交样品类型和测试要求，获取相应选型建议。

产品咨询

如果您的样品尺寸较大，或者一次测试涉及较多样品，可通过平台询价或留言提交样品尺寸、数量及测试需求，了解 Phenom XL G3 的适用配置、应用资料及报价信息。